新一代光学三坐标测量系统 – µCMM NEO

当您的零部件追求极致精度时，您的计量方案也应同样卓越。

基于超过25年的光学计量经验，全新µCMM NEO突破传统尺寸测量的局限，实现更全面的测量能力。以"表面优先”的测量理念与完整的三维数据为基础，帮助您深入理解关键功能特征——无论是微小几何结构、自由曲面还是微孔结构，均可实现更高效率、更高精度以及更深入的数据洞察。 

µCMM NEO不仅关注尺寸，更通过基于表面的分析方式，实现对功能特征的真实理解——在每一分钟测量中获取更多信息，为您提供更深入的零件功能性能洞察。

五轴高精度系统确保在整个测量体积范围内实现最高测量精度，同时尺寸、形位公差、形状和粗糙度可在一次一致的测量流程中完成评估。
减少装夹复杂性，无需重复定位，以一体化光学平台替代多种传统测量系统。
专为对精度要求极高的制造企业而打造。

咨询：159 1097 4236

技术参数一览

µCMM NEO， 用于微米级精密制造的光学三坐标测量系统

融合多种光学测量技术与完整三维数据，集成于统一平台，实现从尺寸测量到功能特征表面化理解的全面跃升

技术特色