Wyse light的Raymaster非球面测量仪，可以实现非球面及自由曲面面形的快速测量，测量精度可达λ/40 （约15nm rms），并且无需复杂装调，无需光学平台，无需专业人员操作。
RayMaster 相位偏折非球面测量仪
RayMaster 相位偏折非球面测量仪
相位测量偏折术（PMD： Phase Measurement Deflectometry），经过近20年的研究与发展，已经被证明是解决非球面及自由曲面快速测量的佳方案之一。WyseLight 公司结合其专利的同轴标定测量技术方案，解决了屏幕标定（Identification）与复杂的相位分步偏折解包算法两大应用难题，首次实现了PMD技术的仪器化，标志着这项技术进入了广泛应用阶段。
WyseLight的Raymaster非球面测量仪，可以实现非球面及自由曲面面形的快速测量，测量精度可达λ/40 （约15nm rms），并且无需复杂装调，无需光学平台，无需专业人员操作。
咨询电话：13522079385
测量对象
球面
非球面：旋转对称或非旋转对称
柱面
自由曲面
凹面 或 凸面
应用领域
非球面制造
光学模压模具面形
金刚石车削镜面
红外非球面
批量测量
仪器特点
一键快速操作：无需复杂调整，无需CGH，测量时间5-15分钟
屏幕标定过程自动化
无需隔振台
对中高频误差非常敏感
测量精度：λ/40 （15 nm rms）
