应用领域
用于食品包装的多层塑料薄膜和片材。
阻隔薄膜/片材（层测量）
测量原理
KAPA（总厚度）
它基于非接触式、间接厚度测量原理。传感器和滚筒之间的电容取决于被测板材的电介质以及传感器到滚筒之间的距离。为了消除传感器与滚筒之间的距离波动的影响，使用涡流传感器（与电容式传感器位于同一外壳中）永久测量该距离。根据该测量距离对电容传感器的结果进行校正。
IR（对于EVOH层）
它基于非接触式传输测量原理。为了确定 EVOH 层厚度，记录了塑料的宽红外光谱，并使用我们的现代分析方法评估了 EVOH 聚合物分子的吸收情况。
咨询电话：13522079385
技术规格：
技术数据 卡帕 红外
测量系统 电容/涡流 红外线的
厚度范围 最大 3 毫米 > 5 微米*
测量间隙 4.4毫米 35毫米
传感器分辨率 ≤0.1微米 0.5微米
重复性 ≤±0.5微米 ≤ 2 微米*
测量速度 10-300毫米/秒可调 25毫米/秒可调
校准 每种材料所必需的