Shadow 是一种易于使用的直接测量系统，适用于最大 3.5 毫米的幅材
Shadow 的工作原理是测量辊上的激光遮挡。
它是一个直接测量系统，因此与薄膜的特性无关。
影子是一种非核技术，不需要许可或保护措施。
应用领域
阴影对材质属性、透明度、颜色和不透明度不敏感。 Shadow可以测量单层、多层和压花材料的总厚度。
应用包括：
挤出片材、泡沫、复合材料、多层/压花材料、压延片材、橡胶、涂层基材、无纺布。
咨询电话：13522079385
← 500 毫米 - 8 米 →
阴影宽度为 500 毫米至 8 米
≤3微米
超精密厚度测量，精度≤ 3 µm
≤3.5毫米
Shadow适合材料厚度达3.5毫米
测量原理
激光遮光/涡流
传感器头包含 2 个传感器：激光阴影传感器和涡流传感器。遮光传感器将激光束发送到测量辊和待测量的薄膜上。接收器（线扫描相机）检测胶片和滚筒的阴影。涡流传感器永久测量传感器头到测量辊的距离。两次测量的结果直接给出薄膜的厚度。
校准
无需校准。该测量与薄膜特性无关。
技术规格：
技术规格 阴影
传感器系统 激光遮挡/涡流
最大限度 厚度 3.5毫米
测量切割 5.5毫米
传感器直径 30毫米
测量光斑直径 0.5毫米
传感器分辨率 0.5微米
重复性 ≤ ± 1.5 微米
测量速度 10 – 300 毫米/秒可调
处理速度 10 – 500 毫米/秒可调
校准 不强制
基准辊直径 200毫米