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奥地利SBI塑料薄膜和片材射线光谱仪
2025-11-05 10:34:10

应用领域

流延膜

BIAX

无纺布

压延

塑料薄膜和片材

涂布和层压

← 8 m →

XRS 测厚仪的宽度可达 8 m

≤ 0.2 微米

超精密厚度测量,精度 ≤ 0.2 µm

测量原理

XRS 是一种非接触式测量系统。 X 射线管发射能量光子。测量基于 X 射线粒子从源的吸收来确定厚度和基重。

无论是薄膜挤出、片材挤出还是挤出涂层,这都可以更好地控制工艺。

 

咨询电话:159 1097 4236

 

技术规格

技术规格 X射线光谱仪

测量系统 X射线

最大限度 管电压 < 5 kV

最大限度 测量厚度 700微米*

测量间隙 10 – 20 毫米

测量光斑直径 15毫米

重复性 ± 0,2 % 不优于 ± 0,2 μm

测量速度 10-200毫米/秒可调

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