PTI 250RS当产量提高与性能需求的问题同时出现时，透镜表面和透镜半径制作从而变得越来越关键和困难。用于DVD播放机、手机、CD ROM、内窥镜、数码相机和其他高产量产品所需的光学元件需求量正快速增长，同时所要求的性能规格也越来越严格。然而，这些产品越来越轻薄短小，所以在每一道生产工序上也就越来越不易控制其性能。在光学性能检测上所遭遇了挑战，其中包括：光学表面形态、光学表面半径、球面镜和非球面镜的发射波阵，以及多透镜光学系统的光学性能检测；制造商也遇到了必须解决影响产品质量下降的一系列问题，例如发生过度或欠缺抛光、光学模具损耗、材质变动与组装公差等等问题。 PTI 250 是一套稳定且易于使用的干涉仪，可以提供透镜和透镜系统的3维表面形态面和波阵图及透镜曲率半径与检测。这是套小型干涉仪系统，其与ZYGO公司所制造的干涉仪（也是世界标准）一致。PTI 250 是纯正的ZYGO干涉仪，同时还提供易于使用和可靠的测量方法且有很好的投资报酬率，极适合高产量生产控制，同时也可作为科研人员研发使用。
PTI 250特点 ：
25mm孔径干涉仪
附带涵盖许多应用范围的系列光学配件
操作方便且快速的干涉条纹对准系统
手动孔径调焦降低边缘衍射并加强性能
Z轴手动粗调300mm与微调30mm
直接与世界标准的ZYGO GPI 及VeriFire 干涉仪进行校准
配有高精度、高可靠度且易于使用的温控半导体激光器
可选用垂直、水平或向上方式的测试座
提供未来产品升级需要与附件使用
根据不同的应用需求PTI 250系列分为：PTI 250RS, PTI 250P, PTI 250F, PTI 250V
PTI 250RS
具备研究用干涉仪所需要的高功能性及灵活性。
在2秒内，可产生多于300,000个像素的定量三维图。
位相测量干涉仪，精度大于λ/100。
采用FlashPhase数据采集方法，在不稳定及有振动的环境下仍能进行可靠测量。
采用标准的Zygo MetroPro界面――干涉检测的国际标准。
可测曲率半径 (选用)。
PTI 250P
生产用位相调制干涉仪。
可产生多于300,000 个像素的定量表面形态图。
位相测量干涉仪，精度大于λ/100。
采用标准的Zygo MetroPro软件，多语言支持的操作界面。
可测曲率半径 (选用)。
PTI 250P / PTI 250F
PTI 250V
PTI 250F
经济实用的生产用位相调制干涉仪。 l 采用FlashPhase数据采集方法，可在干扰较大的生产环境下进行可靠的测量。
可产生多于300,000 个像素的定量表面形态图。
采用FlashPhase作位相测量。
采用标准的Zygo MetroPro 软件，多语言支持的操作界面。
可测曲率半径 (选用)。
PTI 250V
廉格生产用快速检测干涉仪。
目测条纹方式，检测产品。
可测曲率半径 (选用)。
可升级到PTI 250F 和PTI 250P 。
